sem图片分析软件，sem图谱分析

TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图超详细教程

使用Nano Measurer进行粒径测量与统计 软件安装与准备：下载并安装Nano Measurer软件。如遇msvbvm60.dll文件错误，选择忽略并继续安装，随后将该文件复制到C：windowssystem32目录下。设置标尺：打开SEM/TEM电镜图片，在Nano Measurer中设置正确的标尺，以确保测量的准确性。

首先，安装Nano Measurer，忽略msvbvm60.dll错误后，按照步骤打开并设置SEM图片标尺。对于非*.bmp和*.jpg格式的TEM图片，需进行预处理。在测量过程中，至少标记10个颗粒，调整标记位置和颜色，生成报告后导出为txt文件。

然后，选择安装语言，点击下一步进行安装。安装完成后，打开软件，以Jpg格式的SEM图片为例，设置标尺并进行颗粒标记统计。至少需要标记10个数据点，通过设置标尺、标记粒径、删除不理想颗粒和调整标记位置等方式进行操作。测量完成后，点击报告生成txt文件，便于后续在Origin中进行粒径分布的作图。

使用教程分为两部分：首先是安装步骤，包括解压、忽略错误对话框、选择语言和安装。然后是Nano Measurer的使用，包括打开SEM或TEM图片，设置标尺，标记和删除颗粒，查看报告，以及在电镜图片上放大缩小。测量粒径后，数据可以导出到txt文件，便于进一步在Origin中进行分析和作图。

首先，展示了一张碳量子点的TEM照片（图1），并绘制了其粒径分布柱状图（图2）。接着，详细介绍拟合方法，点击柱状图后，选择Analysis→Fitting→Nonlinear Curve Fit→Open Dialog...（快捷键Ctrl+Y）打开非线性拟合对话框，选择高斯函数进行拟合，得到平均粒径约为3nm（图5）。

Nano measurer是一款简单易用的电镜图片尺寸统计分析工具，适用于SEM、TEM等图片中微纳米尺度下的长度、直径、孔径等尺寸的统计分析，同时也能进行颗粒间距离分析。这款软件具有占用内存小、操作简单、数据可导入origin作图等优势，界面支持中英文切换，非常适合推荐给外国科研人员使用。

如何在sem图上标尺度,用什么软件?图片已经扫描回来了。大概是纳米级的...

Nano measurer是一款简单易用的电镜图片尺寸统计分析工具，适用于SEM、TEM等图片中微纳米尺度下的长度、直径、孔径等尺寸的统计分析，同时也能进行颗粒间距离分析。这款软件具有占用内存小、操作简单、数据可导入origin作图等优势，界面支持中英文切换，非常适合推荐给外国科研人员使用。

Nano measurer是一款采用Visual Basic 0开发的简单易用尺寸统计分析软件。它适用于SEM、TEM等图片中的微纳米尺度尺寸统计分析，包括长度、直径、孔径统计，以及颗粒间距离分析。此外，它还能够粗略分析晶面间距。

SEM扫描电镜图片分析可从多个方面着手。形貌观察是基础，仔细查看样品表面的微观结构，比如是否存在颗粒，需留意颗粒的大小、形状，是球形、方形还是不规则形；对于纤维结构，要关注其粗细、长短以及排列方式，是有序排列还是杂乱无章。成分分析方面，可借助能谱仪（EDS）与扫描电镜联用。

SEM电镜怎么分析?

1、分析 SEM 扫描电镜图片可从以下几方面入手。首先观察形貌，留意样品的整体形状、表面起伏、颗粒分布等。比如材料表面是否平整，有无裂纹、孔洞，颗粒是均匀分散还是团聚。接着关注尺寸，借助图片上的标尺，测量特征结构或颗粒的大小，了解其微观尺度。

2、分析SEM扫描电镜图片主要涉及到图像处理和图像分析两个步骤，通过专业的软件工具和特定的分析方法，可以对图片的形貌、成分、晶体结构等方面进行深入解读。 图像处理 首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。

3、观察样品表面形貌：SEM扫描电镜图主要通过显示样品表面的微观结构来提供信息。 识别图像特征：注意图像中的颗粒、纹理、裂缝等特征，这些特征能够反映样品的性质。关于图中参数的解释： 放大倍数：显示了图像相对于实际样品的放大比例，通常显示在图的左下角或右上角。

4、SEM扫描电镜图片分析可从多个方面着手。形貌观察是基础，仔细查看样品表面的微观结构，比如是否存在颗粒，需留意颗粒的大小、形状，是球形、方形还是不规则形；对于纤维结构，要关注其粗细、长短以及排列方式，是有序排列还是杂乱无章。成分分析方面，可借助能谱仪（EDS）与扫描电镜联用。

5、表面分析：欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。

6、分析 SEM 扫描电镜图片，可从以下几个方面入手。形貌观察是基础。留意材料的整体形态，比如是颗粒状、纤维状还是块状等。若观察到颗粒，要注意其大小是否均匀，形状是否规则，是球形、方形还是不规则形。对于纤维，关注其粗细、长短以及排列方式，是平行排列、交织还是随机分布。结构特征也很关键。