sem像散怎么调，像散是如何产生的,它对分辨率有什么影响

TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图超详细教程

使用Nano Measurer进行粒径测量与统计 软件安装与准备：下载并安装Nano Measurer软件。如遇msvbvm60.dll文件错误，选择忽略并继续安装，随后将该文件复制到C：windowssystem32目录下。设置标尺：打开SEM/TEM电镜图片，在Nano Measurer中设置正确的标尺，以确保测量的准确性。

首先，安装Nano Measurer，忽略msvbvm60.dll错误后，按照步骤打开并设置SEM图片标尺。对于非*.bmp和*.jpg格式的TEM图片，需进行预处理。在测量过程中，至少标记10个颗粒，调整标记位置和颜色，生成报告后导出为txt文件。

然后，选择安装语言，点击下一步进行安装。安装完成后，打开软件，以Jpg格式的SEM图片为例，设置标尺并进行颗粒标记统计。至少需要标记10个数据点，通过设置标尺、标记粒径、删除不理想颗粒和调整标记位置等方式进行操作。测量完成后，点击报告生成txt文件，便于后续在Origin中进行粒径分布的作图。

使用教程分为两部分：首先是安装步骤，包括解压、忽略错误对话框、选择语言和安装。然后是Nano Measurer的使用，包括打开SEM或TEM图片，设置标尺，标记和删除颗粒，查看报告，以及在电镜图片上放大缩小。测量粒径后，数据可以导出到txt文件，便于进一步在Origin中进行分析和作图。

sem像散产生的原因

sem像散产生是由于SEM的磁场轴向 不对称所引起的一种像差。

性质不同 SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。

首先，SEM的工作基石是利用二次电子成像。1965年，这一创新技术的诞生，使得科学家们能够通过狭窄的电子束对样品表面进行扫描，激发的电子不仅产生了形貌像，而且是通过逐点成像技术，以极高的分辨率呈现样品表面的细节。

样品与电子束的相互作用 当高能电子束撞击样品表面时，会产生多种相互作用，如弹性散射和非弹性散射。这些交互导致样品表面的微观结构细节产生信息丰富的电子信号。同时，样品的物理性质如表面形貌、成分等会影响电子的散射方式。信号检测与图像处理 SEM配备了高性能的探测器，用于接收样品散射回来的电子。

污染小：SEM对样品表面的污染影响较小，能够保持样品的原始状态。 放大倍数高：SEM的放大倍数从数倍到几十万倍不等，满足不同观察需求。应用： 形貌分析：SEM常用于观察和分析材料的微观形貌，如颗粒形状、表面粗糙度等。 截面尺寸观察：通过SEM可以观察样品的截面尺寸，了解样品的内部结构。

sem测试主要测什么

1、SEM测试主要涉及以下几个方面： 形貌分析：SEM能够观察样品的表面形貌，其放大倍数可在100倍至20，000倍之间调节。常规样品可在8至10，000倍放大下成像，但对于导电性差或磁性样品，可能需要超过8，000倍放大才能获得清晰的图像。 能谱分析：SEM能谱分析通常限于碳（含碳）以后的元素。

2、sem测试主要测形貌、能谱、镀金。形貌：仪器放大倍数范围是100倍-20W倍，常规样品可以拍摄到8-10W倍，导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。

3、SEM测试，即扫描电子显微镜测试，是一种用于高分辨率微区形貌分析的精密仪器。SEM测试通过扫描电镜对样品进行检测，收集并放大样品表面形貌信息，以获得其微观结构的清晰图像。其工作原理是使用细聚焦的电子束扫描样品，电子与样品相互作用产生物理信息，这些信息被收集、放大并最终成像。

4、科学指南针的SEM测试能力涵盖了磁性和非磁性样品的形貌分析，以及能谱点扫、线扫、mapping测试。该设备还支持背散射电子成像，并能进行样品预处理，如喷金、喷碳和液氮脆断制样。在准备SEM测试样品时，需注意以下几点。

5、科学指南针SEM测试能力覆盖磁性和非磁性样品的形貌分析，以及能谱测试，包括点扫、线扫和mapping测试。SEM可进行背散射电子检测，并提供喷金、喷碳和液氮脆断制样服务。

6、SEM+EDS测试是一种结合扫描电子显微镜（SEM）与能量分散谱仪（EDS）的材料表面分析技术。它适用于研究材料表面形貌与化学成分，提供高分辨率图像与精确化学信息，深入理解材料表面结构与化学性质。扫描电子显微镜（SEM）利用电子束扫描样品表面，获取形貌、成分与晶体结构信息。

扫描电镜xy怎么调

调整扫描电镜的xy方向的方法包括以下几个步骤： 首先，点击消像散图标，在界面上通过拖动鼠标左键来进行上下或左右移动，目的是减小图像的模糊边缘。随后，进行调焦操作，以提高图像的清晰度。可能需要多次调整，直至获得满意的清晰图像。 接着，在光阑板面上点击消像散选项。

更大范围的扫描需要通过调节样品台XYR轴实现。目前中档扫描电镜的样品仓和样品台的配置一般可以容纳6英寸直径的样品，大约为150mm，并且对所有部位进行扫描。直径大于6英寸的样品，最多也只能扫描6英寸，但也有可能受到样品仓尺度或者探测器位置的限制，反而连6英寸扫描范围都达不到。

右下方有移动手柄，使载物台面可在XY双方向进行移动。 调焦机构利用调焦手轮可以驱动调焦机构，使载物台作粗调和微调的升降运动，从而使被观察物体对焦清晰成像。 聚光器调节机构聚光器安装在其上，调节螺旋可以使聚光器升降，用以调节光线的强弱。