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sem扫描电镜

SEM（扫描电子显微镜）是用于观测样品表面材料的物质性能并进行微观成像的技术。 扫描电子显微镜是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观测手段，它在光电技术领域扮演着关键角色。

SEM扫描电镜测试的原理是通过电子束逐点扫描样品表面产生信号并转化为图像，样品制备则根据样品类型进行导电处理和干燥处理。SEM扫描电镜测试的原理： 电子束扫描：SEM利用聚焦的电子束逐点扫描样品表面。 信号产生：电子束与样品交互产生二次电子、背散射电子等信号。

扫描电镜（SEM）的工作原理是基于电子与样品相互作用的现象。电子束聚焦后扫描样品表面，激发出的信号被收集并转化为图像，从而实现对样品表面形貌的高分辨率观察。 在SEM中，高能电子束与样品相互作用，产生二次电子、背散射电子等信号。

分析 SEM 扫描电镜图片可从以下几方面入手。首先观察形貌，留意样品的整体形状、表面起伏、颗粒分布等。比如材料表面是否平整，有无裂纹、孔洞，颗粒是均匀分散还是团聚。接着关注尺寸，借助图片上的标尺，测量特征结构或颗粒的大小，了解其微观尺度。

SEM扫描电镜图参数代表的意思【点击了解产品详情】放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。