sem对样品的要求,sem样品制备的基本原则

sem对样品的要求,sem样品制备的基本原则

扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求 样品制备方面,TEM要求样品制备成非常薄的切片(通常小于100纳米)以确保电子束穿透,而SEM对样品厚度没有严格要求,样品制备相对简单。在分辨率上,TEM...