sem对样品的要求，sem样品制备的基本原则

扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

样品制备方面，TEM要求样品制备成非常薄的切片（通常小于100纳米）以确保电子束穿透，而SEM对样品厚度没有严格要求，样品制备相对简单。在分辨率上，TEM具有更高的分辨率，可达到原子级别，适用于研究原子排列、晶体缺陷等微观结构；而SEM分辨率通常在13纳米，适用于观察表面形貌、断口分析、颗粒尺寸等表面特征。

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。

TEM对样品的要求更为苛刻，样品需透明，厚度需在100nm以下（高分辨要求更少于10nm），同时需牢固、导电且无污染。具体步骤包括：- 选择合适的载网和支持膜，如铜网、无孔碳支持膜、纯碳支持膜等。- 磁性粉末可采用树脂包埋或双联网碳支持膜处理。

样品要求上，SEM对厚度无特殊限制，适用于采用切、磨、抛光或解理等方法呈现特定剖面的样品。制样过程可能涉及腐蚀处理以提高观察效果，但这一过程可能影响样品的原始结构。相反，TEM要求极薄的样品以保证高质量的图像，通常只有10至100nm的厚度，这给样品制备带来挑战。

透射电镜（TEM）制样：TEM样品制备是实验核心，分为顶入式和侧插式样品台。支撑网材质如Cu、Ni、Be、尼龙等，需注意与样品成分区分。制备方法包括滴样和捞取，需注意关键点和注意事项。 扫描电镜（SEM）制样：SEM样品需为固体，无毒、放射性、污染、磁性、水分，组分稳定。

透射电镜： 特点：放大能力极强，能观察到纳米级结构。 样品台类型： 顶入式：适合观察多个样品，但占用空间大，可能影响分辨率。 侧插式：体积小，利于提高分辨率，但换样品需打破真空，操作不便。 扫描电镜： 特点：制样相对简单，对样品的要求包括固态、无毒等。

用扫描电镜对样品或试件进行观察时样品需要做哪些处理

用扫描电镜对样品或试件进行观察时样品处理如下：样品要尽可能干燥，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去；若样品中含有水份，水分挥发会造成仓内真空度急剧下降，导致图像漂移，有白色条纹，甚至会影响灯丝寿命。

确保样品的干燥状态：样品应去除水分和其他挥发性物质，以防止在真空环境中造成图像漂移和潜在的设备损害。 考虑样品的热稳定性：易分解或热敏感的样品可能在高能电子束作用下发生变化，因此需确保样品在观察过程中保持稳定。 改善样品的导电性：良好的导电性有助于减少荷电效应，从而避免图像畸变。

确保样品干燥：样品应去除所有水分和其他易挥发物质，因为这些物质的挥发可能导致仓内真空度下降，引起图像漂移、白色条纹，甚至缩短灯丝寿命。 考虑样品的热稳定性：选择热稳定性良好的样品，因为热稳定性差的样品在电子束作用下可能会分解，释放气体或物质，从而污染SEM环境。

接下来，由于表面附着物可能影响观察，因此在固定前要彻底清洗。清洗是为了去除组织表面的血液、组织液或粘液，确保观察区域清晰。常用的固定方法与透射电镜类似，使用戊二醛和锇酸双固定，对于大体积样品，固定时间应适当延长，也可采用冷冻固定。脱水是扫描电镜观察前的必要步骤。

才能确保分析结果的准确性和可靠性。如果样品的表面受到污染，需要在不破坏其表面结构的前提下进行适当的清洗和烘干处理。这样可以去除表面的杂质和污染物，避免对分析结果产生干扰。总之，样品准备是扫描电子显微镜分析的重要步骤之一。只有严格遵守上述要求，才能确保分析过程的顺利进行以及分析结果的准确性。

扫描电镜对样品的要求是什么

1、扫描电镜样品要求有形貌形态，要耐高真空、样品表面不能含有有机油脂类污染物、样品要是干燥的、样品表面可以导电等等。形貌形态，要耐高真空 扫描电镜是靠电子束扫描物体表面来成像的。空气的存在会使的电子束变型，影响扫描效果，所以被测样品比较能耐高真空。

2、样品必须为固体，并需确保无毒性和无放射性。 样品可呈现块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状。重要的是，样品不能含有机挥发物和水分。水分存在会导致图像模糊甚至无法成像，并可能污染镜筒。因此，在进行扫描电镜观察前，必须烘干样品以去除水分。

3、扫描电镜对样品的要求如下：样品形态：固体形态：样品必须是固体。无毒无放射性：样品需确保无毒且无放射性。样品状态：形状多样：样品可以是块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状。无有机挥发物和无水分：样品不能含有有机挥发物或水分。