EDS SEM扫描电镜能谱 剖析中必定要明确的几个关键疑问

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• SEM扫描电镜能谱（EDS）剖析中必定要明确的几个关键疑问
• sem扫描电镜图片怎样剖析微相分别
• pom和sem剖析方法区别

SEM扫描电镜能谱（EDS）剖析中必定要明确的几个关键疑问

SEM扫描电镜能谱（EDS）剖析是资料微区成分钻研的关键工具。

它操作简便、速度快，性价比高，已成为电镜中的经常出现性能。

本文将集中解答几个关键疑问，协助了解EDS的经常使用。

首先，关于EDS的缩写，虽然早期有EDS、EDX、EDAX等多种称说，但2004年后，EDS被广泛接受为能谱或能谱仪，而EDX则用于能谱学。

虽然称号多样，但如今EDS是规范用法，但局部文献或者仍沿用旧称。

关于SEM和TEM的能谱精度，虽然TEM分辨率更高，但并不象征着其能谱分辨率必定优于SEM。

理想上，等同条件下，TEM的能谱分辨率或者略低。

SEM由于易于样品制备和校准，关于许多金属和稀土元素的定量剖析更为准确。

EDS剖析的定量精度依赖于规范和误差规则，关于平整、无水的试样，规范准许总量误差小于±3%。

但关于不平整试样，或者要求启动归一化解决或半定量剖析。

TEM的定量剖析更为复杂，由于薄样品或者造成厚度难以准确测量，影响定量结果。

最后，关于EDS谱峰，谱线多并不示意元素含量高，而是电子壳层结构的反映。

轻元素的缺失或者是由于搅扰或样品解决疑问，要求经过比拟和位置调整来判别。

经常出现的搅扰元素包含C、O、Al、Cu、Cr等，可经过特定操作扫除。

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sem扫描电镜图片怎样剖析微相分别

在剖析SEM扫描电镜图片中的微相分别时，可以采取以下步骤：1. 首先，经常使用扫描电子显微镜（SEM）对样品启动扫描，失掉高品质的图像。

2. 接着，对所取得的SEM图像启动适当的解决，如调整对比度和亮度，以便更明晰地观察微相特色。

3. 而后，依据解决后的图像，剖析微相的外形特色和散布状况，以推断微相的性质和构成机制。

4. 此外，可以应用专业的图像解决软件，进一步提取图像中的关键消息，如面积、体积、外形等。

5. 最后，经过图像剖析软件对提取的消息启动定量剖析，从而失掉微相分别的具体结果。

经过这些步骤，可以有效地对SEM扫描电镜图片中的微相分别启动剖析，为关系钻研畛域提供牢靠的依据。

pom和sem剖析方法区别

钻研对象，钻研内容不同。

pom和sem剖析方法区别为1、钻研对象不同，Pom指的是偏光显微镜，普通用于各种聚合物液晶体系外形表学表征的钻研；Sem指的是扫描电子显微镜，关键用于液体外形表学钻研。

钻研内容不同，POM钻研液晶态的清亮点及熔点、各液晶相间的转变、液晶态织构和取向毛病等内形学以及聚合物或预聚物与液晶态相分别的环节；sem用于聚合物形貌及网络结构的钻研。