SEM精度，SEM精度多少

误差棒选谁——SD,SE,SEM傻傻分不清?

在误差棒的选择中，SD（标准差）和SEM（均值标准误）扮演着不同的角色。SD衡量的是数据点与平均值的差异，反映数据的离散程度，较大的SD意味着数据点分布越分散。SEM则关注的是样本均值的可靠性，它描述的是样本统计量与总体参数间的抽样误差，越小的SEM表示推断的准确性更高。

error bar用SD和SEM都可以，自己统一就好，操作方法如下：首先打开Origin作图软件，输入所需分析的数据。先选中三列数据，在主菜单找到“Statistics”并点击，然后依次选择“Descriptive Statistics”→“Statistics on Rows”。

SEM（均值标准误）描述样本均值的分布情况，反映抽样误差。SEM越小，样本统计量与总体参数更接近，推断总体参数的可靠性越高。主要用于描述样本均值，而非总体均值。误差棒的另一种表现形式是置信区间（CI），与SEM相关。67%置信区间从平均值向每个方向延伸约一个SEM，95%置信区间则延伸约两个SEM。

SCI写作-生物统计学:标准偏差SD和平均值的标准误差SEM,到底要用哪...

1、在撰写SCI文章时，生物统计学中的标准偏差SD与平均值的标准误差SEM的选择至关重要。尽管许多研究者可能依赖已发表文献进行统计分析，但实际中，缺乏生物统计学训练的科学家们在处理数据时存在误区。为了确保数据准确呈现，理解这两个概念的差异至关重要。

2、SD是标准偏差，反映的是样本变量值的离散程度。SEM是标准误差，反映的是样本均数之间的变异。SD为样本标准差 ，根据标准差SD能反映变量值的离散程度 。正负值就是在计算好的SD上加个正负号， 表示在这个范围内波动；在平均值上加上或者减去这个数字，都认为在正常范围内 。

3、SD与SEM是两个统计学中常见的概念，它们的区别在于反映的侧重点和应用场景。SD，即标准偏差，主要用于衡量样本变量值的离散程度，其数值大小代表了数据点围绕平均值的波动范围。标准差小表示数据分布集中，大则说明数据分散。医学上通常用SD表示，是描述变量分布离散程度的重要指标。

4、Wikipedia也对误差线（ error bar ，也称误差条、误差棒) 进行了说明，可以用标准差（standard deviation SD)、标准误（或称标准误差，standard error，SE）以及置信区间表示。所以在论文中明确写明你用的是哪一种即可。

sem基本参数

1、SEM的另一个关键特性是场深，即焦平面上下能清晰成像的样品层厚度，通常只有几纳米。这使得SEM特别适合于纳米级样品的三维成像。

2、放大率：在SEM（扫描电子显微镜）中，放大率并非通过透镜来控制，而是通过调整扫描区域的大小来实现。想要获得更高的放大率，只需扫描一个更小的区域。放大率是由屏幕或照片显示的面积与实际扫描面积的比值确定。因此，SEM中的放大率与透镜无关。

3、SEM扫描电镜图参数代表的意思【点击了解产品详情】放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。

SEM能测的最小元素能到哪个?

1、SEM技术在分析较重的元素方面表现出色，但对于一些轻元素，如氢（H）、氦（He）、锂（Li），则难以精确测量。这是因为这些元素的原子质量较小，检测它们需要更高的灵敏度和精确度。在实际应用中，尽管SEM能提供丰富的表面形貌信息，但对于轻元素的含量测定，结果往往不够准确。

2、SEM能谱分析通常限于碳（含碳）以后的元素。如需进行能谱分析，需明确指出测试位置和需要分析的元素。需要注意的是，在制样时，被测元素不应与基底材料重合。例如，若要测试碳元素，样品应分散于不含碳的基底之外，如硅片或锡纸上。若要测试硅元素，则应避免将样品分散于硅片上。

3、SEM能谱一般只能测C（含C）以后的元素，如果需要打能谱，需要备注好测试位置以及能谱打哪些元素，需要注意的是制样时待测元素不能与基底成分有重合，如果要测C元素，样品不要分散到含C的基底上，可以分散到硅片，锡纸上，如果要测Si元素，注意不要制样到硅片上。

4、TEM与SEM能谱分析的分辨率并不直接关联，SEM在定量分析方面通常优于TEM，原因在于SEM的样品制备相对容易，对厚度的敏感度较低，而TEM样品多为薄样品，这可能影响定量分析时的样品厚度确定。EDS谱线的峰位对应一个元素，并不代表该元素含量高，而是取决于不同壳层电子跃迁的能量差，与元素含量无直接关联。

5、最低含量为0.X%。因为我们进行测量的物质都是定量的，最低含量为0.X%。EDS 点分析是将电子束固定于样品中某一点上，进行定性或者定量的分析。每一种元素在图中会出现一种峰，由此可以看出样品中所含有的元素，同时展示了相对质量分数和相对原子分数及误差，误差越大表示元素的相对含量可信度越低。

电子显微镜有哪些参数?

放大率：在扫描电子显微镜（SEM）中，放大率是通过调整扫描区域的大小来控制的。想要更高的放大率，只需扫描更小的面积。放大率是屏幕/照片面积与扫描面积的比值，因此与透镜无关。

电子显微镜的参数包括图像传感器、清晰度、图像刷新率、信噪比、视频接口、镜头接口、控制功能、电源、工作电流、功率、体积、总放大倍数、物镜、目镜、升降范围、手轮调焦范围、中心距离、立柱直径、镜头接口直径、支架总高度、底座尺寸、净重以及8寸工业液晶显示器。这些参数为显微镜提供了全面的功能和性能指标。

在挑选电子显微镜时，应考虑以下关键参数： 分辨力：这是显微镜区分相邻两点的能力。分辨力与镜口率（N.A.）密切相关，后者由镜口角和物镜与标本介质的折射率决定。镜口率较低意味着分辨力较高。需要注意的是，分辨力与分辨携带率是不同的概念。分辨率主要由图像感应芯片决定。

放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。

扫描电镜(SEM)

扫描电镜（SEM）的工作原理是基于电子与样品相互作用的现象。电子束聚焦后扫描样品表面，激发出的信号被收集并转化为图像，从而实现对样品表面形貌的高分辨率观察。 在SEM中，高能电子束与样品相互作用，产生二次电子、背散射电子等信号。

扫描电镜SEM原理及应用：原理： 构成：SEM主要由电子枪、电磁透镜和扫描线圈、成像系统、记录系统、真空系统以及电源系统等构成。 工作原理：基于电子束与样品相互作用，产生多种信号，如二次电子、能量色散X射线光谱、电子背散射衍射等。这些信号被接收并处理，提供形貌观察、成分分析、组构分析等信息。

扫描电镜中的WD参数指工作距离，指的是样品成像表面到物镜的距离，等于清晰成像时物镜焦距。电磁透镜物镜焦距随着磁线圈的电流强度变化成一定函数关系，因而聚焦是控制磁线圈电流，连续改变焦距，从而实现聚焦平面和样品表面重合，实现清晰成像。

首先，在使用扫描电子显微镜（SEM）时，可以通过观察附带的标尺来确定放大倍数。具体操作是，使用尺子测量样品图像中的某个特征与标尺上的对应刻度，然后将这两个数值相除，得到的结果即为放大倍数。 扫描电子显微镜的工作原理是基于电子与样品之间的相互作用。

放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。