sem实验步骤，sem试样

如何对岩石表面进行扫描电镜测试

岩石表面的扫描电镜(SEM)测试是通过将样品放置在SEM测试台上，使用电子束扫描样品表面，然后通过检测反射回来的电子来获得图像。【点击了解产品详情】以下是进行SEM测试的一般步骤：将样品表面准备好：将岩石切割成薄片或取出其中一部分，然后将其抛光以获得光滑的表面。

扫描电镜是一种通过电子枪射出电子束聚焦后在样品表面做光栅状扫描的方法，其应用是二次电子成像。扫描电镜原理是将样品表面投射非常细小的电子束，并通过收集电子反弹或其它来源的二次电子信号来确定样品表面形态和性质。这些二次电子信号会反映出样品表面的许多细微结构和缺陷。

测试过程需注意清洁，可通过酒精或超声波清洗降低污染程度。成分相的样品表面应尽量光滑，高度差异不可过大，必要时需进行精细抛光。某些特殊形状的样品，如锥状、似锥状或有明显棱角、尖角等突兀状样品无法测试，样品底面不平整的需要进行磨平处理。SEM的制样方法主要包括样品制备和镀膜。

（4）以成分测试为主的样品须表面平整、镜面抛光，以确保分析测试结果准确；对于形貌观察则只需取新鲜断面。地质应用 （1）矿物物相研究：扫描电镜的二次电子图像可清晰呈现矿物特征的形貌，例如，高岭石呈假六方片状、假六方板状，埃洛石呈管状、圆球状，绿泥石呈六角板状。

在生物学研究中，该技术可以揭示细胞结构、组织微环境和生物材料的生物相容性等关键信息。地质学领域中，扫描电镜技术用于分析岩石和矿物的微观结构，有助于理解地质过程和地球历史。工业检测方面，该技术可以检测产品质量、评估材料的性能以及进行失效分析，为工业生产和产品质量控制提供技术支持。

扫描电镜怎么测膜厚度

1、试样制备：在扫描电镜中观察非导电试样时，试样的制备至关重要。如果制备不当，可能会出现假象，影响观察结果的准确性。 影响SEM图像质量的因素：图像质量受到多种因素的影响，包括加速电压、镀膜厚度、试样尺寸和固定方法等。选择适当的条件对于获得高质量的SEM图像至关重要。

2、如果是金属表面镀层，如镀锌层、镀铜层等，可以磨制垂直截面金相试样，然后直接在光镜或扫描电镜下测量；如果钢板上涂覆的油漆等非金属层，制样稍微麻烦点。我们目前采用的办法是，取样块在液氮下冷冻，然后冲击断开，这样可以保持非金属层不会发生变形，从而保持原始形貌和厚度。

3、厚度测量：用专门的仪器，比如椭偏仪或X射线荧光仪，来测量膜层的厚度。厚度是否均匀，是质量好坏的重要指标之一。表面分析：可以用扫描电镜（SEM）观察镀膜的表面结构。SEM能让你看到膜层的微观结构，检查是否有裂纹、孔洞等缺陷。膜层结构：X射线衍射（XRD）技术可以用来分析膜层的晶体结构。

4、如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。场深：在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。

5、放大率：在SEM中，图像的放大率不是通过调整透镜来实现的，而是通过控制扫描区域的大小来控制的。想要更高的放大率，只需扫描更小的面积。放大率是屏幕/照片面积与扫描面积的比值。 场深：SEM能够聚焦于焦平面上下的一小层区域内，这一层的厚度被称为场深，通常为几纳米。

怎样预处理用SEM看粒子大小

1、在使用扫描电子显微镜（SEM）观察粒子大小前，需要进行恰当的预处理步骤。首先，确保药物与辅料的性质相近。特别是对于规格较小且需测定含量均匀度的药物，选择合适的辅料尤为关键。其次，对于粉末直接压片，不溶性润滑剂必须在其他辅料混合均匀之后再加入，并且控制好混合时间，以避免影响崩解或溶出。

2、关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，上海献峰网络指出：药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时，药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近，以利于混合均匀，尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物，必须慎重选择各种辅料。

3、在预处理过程中，还需使用扫描电子显微镜（SEM）观察粒子大小，并对片剂的外观进行检查，确保片重差异符合标准。此外，小试至大生产过程中应采用相同类型的设备，以确保工艺的一致性。如果出现异常情况，如崩解或溶出问题，应立即报告并采取相应措施。

4、扫描电子显微镜（SEM）工作原理：通过聚焦电子束在样品表面扫描，激发各种物理信号调制成像，实现逐点成像，展现样品表面特征，如二次电子像和背散射电子像。SEM优点：高放大倍数、大景深、视野宽广、立体感强、制样简便。实例图片：SEM技术在观察材料表面细节方面表现出色。

搞定SEM/TEM样品制备方法,拍出高级电镜图!

1、粉末样品 - 直接固定在导电胶带或液体胶上，注意剥离纸放置方法，确保样品牢固。 截面样品 - 硅片和玻璃需用玻璃刀切割，注意避开观察面，防止损伤。 薄膜样品 - 液氮粹断技术，可得到更精确的样品表面。

2、- **粉末样品：- 直接固定在导电胶带或液体胶上，注意剥离纸的正确放置，确保样品牢固。- **截面样品：- 硅片和玻璃需用玻璃刀切割，注意避开观察面，以防损伤。- **薄膜样品：- 使用液氮粹断技术，可获得更精确的样品表面。

3、电镜制样方法详解电子显微镜作为精密的材料分析工具，其制样过程至关重要。以下介绍几种常见的电镜制样方法：透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）、冷冻电镜和金相制样。透射电镜（TEM）TEM放大能力极强，能观察到纳米级结构。样品制备耗时，常用顶入式和侧插式样品台。