sem图如何自己添加尺寸，怎么对sem图进行标注

TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图超详细教程

使用Nano Measurer进行粒径测量与统计 软件安装与准备：下载并安装Nano Measurer软件。如遇msvbvm60.dll文件错误，选择忽略并继续安装，随后将该文件复制到C：windowssystem32目录下。设置标尺：打开SEM/TEM电镜图片，在Nano Measurer中设置正确的标尺，以确保测量的准确性。

首先，安装Nano Measurer，忽略msvbvm60.dll错误后，按照步骤打开并设置SEM图片标尺。对于非*.bmp和*.jpg格式的TEM图片，需进行预处理。在测量过程中，至少标记10个颗粒，调整标记位置和颜色，生成报告后导出为txt文件。

然后，选择安装语言，点击下一步进行安装。安装完成后，打开软件，以Jpg格式的SEM图片为例，设置标尺并进行颗粒标记统计。至少需要标记10个数据点，通过设置标尺、标记粒径、删除不理想颗粒和调整标记位置等方式进行操作。测量完成后，点击报告生成txt文件，便于后续在Origin中进行粒径分布的作图。

使用教程分为两部分：首先是安装步骤，包括解压、忽略错误对话框、选择语言和安装。然后是Nano Measurer的使用，包括打开SEM或TEM图片，设置标尺，标记和删除颗粒，查看报告，以及在电镜图片上放大缩小。测量粒径后，数据可以导出到txt文件，便于进一步在Origin中进行分析和作图。

Nano measurer是一款简单易用的电镜图片尺寸统计分析工具，适用于SEM、TEM等图片中微纳米尺度下的长度、直径、孔径等尺寸的统计分析，同时也能进行颗粒间距离分析。这款软件具有占用内存小、操作简单、数据可导入origin作图等优势，界面支持中英文切换，非常适合推荐给外国科研人员使用。

扫描电镜没有标尺怎么办

1、在进行漂移校正时，使用该标尺可能会更加准确。利用扫描电镜成像软件大多数SEM数据采集软件中都设有一些功能可以处理没有标尺的情况。这些功能使用户可以添加标尺，或者使用已知的样品进行比较和校准。

2、要在SEM扫描电镜图中标尺寸，可以按照以下步骤进行： 打开SEM扫描电镜图，选择适当的放大倍数。 在图像中选择一个具有已知尺寸的物体，比如标准参考样品或者微米标尺等。 使用软件工具，在图像中标记出该物体的两个端点，并测量它们之间的距离。

3、将标尺放置于所需测量部位，使用图片处理软件进行操作。 此时，标尺能够清晰地指示图中结构的尺寸。例如，图中的层状结构可观测至纳米级别。 扫描电镜（SEM）作为一种介于透射电镜与光学显微镜之间的观察技术，允许直接利用样品表面的材料性质进行微观成像。

4、拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】例如：尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm/10um就是1000倍。扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。

5、判断是否存在元素偏析现象。此外，还可进行尺度测量。利用 SEM 图片中的标尺，对感兴趣的特征进行尺寸测量，进而计算相关参数，如颗粒的平均粒径、纤维的长径比等。最后，对比不同条件下的 SEM 图片，例如不同处理工艺、不同生长阶段的样品图片，找出差异，从而深入理解材料的变化规律和影响因素。

【知识】扫描电镜(SEM)知识大全

1、扫描电镜(SEM)是什么？ 扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope，SEM)于1965年左右发明，其利用二次电子、背散射电子及特征X射线等信号来观察、分析样品表面的形态、特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。

2、扫描电镜知识大全：基本原理：扫描电镜是一种使用电子束与样品相互作用，产生物理信号，进而构建出样品表面特性扫描图像的工具。电子束的亮度和束斑直径影响信号强度和分辨率，需优化设计以获取高质量图像。基本构造：电子枪：发出电子束，在电场作用下加速。电子透镜：聚焦电子束成直径极小的束斑。

3、扫描电子显微镜（SEM）于1965年左右发明，通过二次电子、背散射电子及特征X射线等信号来观察、分析样品表面的形态、特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。SEM可配备多种附件，如X射线能谱仪、电子背散射衍射等，对样品进行原位、动态分析。

4、SEM（扫描电子显微镜）是用于观测样品表面材料的物质性能并进行微观成像的技术。 扫描电子显微镜是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观测手段，它在光电技术领域扮演着关键角色。

扫描电镜标尺怎么看

1、SEM扫描电镜图的基本查看方法： 观察样品表面形貌：SEM扫描电镜图主要通过显示样品表面的微观结构来提供信息。 识别图像特征：注意图像中的颗粒、纹理、裂缝等特征，这些特征能够反映样品的性质。

2、用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3、拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

4、将标尺放置于所需测量部位，使用图片处理软件进行操作。 此时，标尺能够清晰地指示图中结构的尺寸。例如，图中的层状结构可观测至纳米级别。 扫描电镜（SEM）作为一种介于透射电镜与光学显微镜之间的观察技术，允许直接利用样品表面的材料性质进行微观成像。

针对sem扫描电镜的图片要怎么去分析

1、对 SEM 扫描电镜图片进行分析，可从以下几方面着手。形貌观察是基础。仔细查看图片中样品的整体形状、表面起伏与纹理等微观特征。比如材料的颗粒大小、形状是否规则，纤维的长短、粗细以及排列方向等。尺寸测量也很关键。利用图片中的标尺，可对感兴趣的微观结构进行尺寸估算。

2、SEM扫描电镜图片分析可从多个方面着手。形貌观察是基础，仔细查看样品表面的微观结构，比如是否存在颗粒，需留意颗粒的大小、形状，是球形、方形还是不规则形；对于纤维结构，要关注其粗细、长短以及排列方式，是有序排列还是杂乱无章。成分分析方面，可借助能谱仪（EDS）与扫描电镜联用。

3、图像处理 首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除、对比度增强、图像锐化等。

sem扫描电镜图片分析

1、分析 SEM 扫描电镜图片可从以下几个方面着手。形态特征方面，仔细观察样品的整体外形，如颗粒是球形、方形还是不规则形状；纤维是长丝状还是短棒状等。还要留意表面的起伏、孔洞、裂纹等微观结构，判断其是否均匀分布。

2、分析 SEM 扫描电镜图片，首先要观察整体形貌，留意样品的大致形状、尺寸及表面宏观特征，如是否有明显的凸起、凹陷、裂纹等，对样品有初步的整体认识。接着聚焦微观结构，仔细查看颗粒大小、形状、分布以及它们之间的连接方式等细节，判断是否存在团聚、孔隙等情况。

3、图像处理 首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除、对比度增强、图像锐化等。

4、分析 SEM 扫描电镜图片可从以下几个方面着手。首先观察整体形貌，了解样品的大致轮廓、形状及表面的整体特征，比如是平整的、起伏的还是多孔的等。接着关注微观结构，查看是否存在颗粒、纤维、孔洞等微观单元，确定它们的分布状态，是均匀分布还是局部聚集。

5、在分析SEM扫描电镜图片中的微相分离时，可以采取以下步骤： 首先，使用扫描电子显微镜（SEM）对样品进行扫描，获取高质量的图像。 接着，对所获得的SEM图像进行适当的处理，如调整对比度和亮度，以便更清晰地观察微相特征。