sem图谱分析，sem图谱分析实例

图谱解析AFM,SEM,STM上的标尺代表什么意思

AFM图中的颜色代表不同的高度，颜色越亮，代表这个位置的高度越高；颜色越暗，代表高度越低。你给的文件中，上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值，成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺，通过AFM的相关软件可以直接分析。

STM（扫描隧道显微镜）利用量子理论中的隧道效应，通过电流波动在原子级别上探测物质表面结构，实现高分辨率的表面成像。AFM（原子力显微镜）通过检测与样品表面的原子间相互作用力，研究物质表面结构及性质，提供三维表面图，且不会损害样品，具有广泛的适用性。

扫描电子显微镜（SEM）工作原理：通过聚焦电子束在样品表面扫描，激发各种物理信号调制成像，实现逐点成像，展现样品表面特征，如二次电子像和背散射电子像。SEM优点：高放大倍数、大景深、视野宽广、立体感强、制样简便。实例图片：SEM技术在观察材料表面细节方面表现出色。

扫描电镜&能谱(SEM&EDS)分析

1、扫描电镜作为一种用于微观结构分析的重要仪器，具有以下显著特征： 高分辨率成像：能够清晰呈现样品表面的细微结构，分辨率可达纳米级别，比如场发射扫描电镜分辨率甚至能达到亚纳米级，可让科研人员观察到材料微观世界的细节，如材料晶体的晶格结构、生物细胞的表面纹理等。

2、分辨率高：扫描电镜具备卓越的空间分辨率能力，可以达到0.1纳米级别，这使得它能够清晰地揭示微小物体的表面结构和形态。 深度视场广阔：该显微镜能够捕捉到样品的三维结构，提供极大的视场深度，使观察者能够全面了解样品的立体形态。

3、加速电压 (EHT)：加速电压是指电子束在扫描电镜中的加速电压。较高的加速电压通常会提高图像的分辨率，但过高的电压可能导致样品表面信息丧失。因此，根据样品的性质和需求，选择合适的加速电压很关键。工作距离 (WD)：工作距离是物镜下极靴到样品表面的距离。增大工作距离会降低分辨率，但增加景深。

SEM-ED图谱分析S

SEM-ED图谱分析S 5 这是添加了0.2Gd元素的Al-Si-Cu-Mg铝合金，求大神帮我分析一下这三张图... 这是添加了0.2Gd元素的Al-Si-Cu-Mg铝合金，求大神帮我分析一下这三张图.. 展开 我来答 分享 微信扫一扫 新浪微博 QQ空间 举报 浏览30 次 可选中1个或多个下面的关键词，搜索相关资料。

EDXS图谱的纵坐标标注并无统一标准，可能包括绝对强度值、CPS、Counts等不同表示方式，具体标注应遵循所投杂志的要求。CPS（Counts per second）表示能谱仪计数器的每秒计数。EDAX指的是X射线能量色散分析法（EDS或EDX）和最早生产波谱仪的公司——美国EDAX公司。

EDAX有两个意思，一指X射线能量色散分析法，也称EDS法或EDX法，少用ED表示；二是指最早生产波谱仪的公司---美国EDAX公司。当然生产能谱仪的不只EDAX公司，还有英国的Oxford等。

...IR、SEM、EDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤(材料测试技术...

FTIR主要用于分析高分子有机材料，通过测量红外光谱，可以确定材料中存在的不同高分子键，如单键、双键等。这有助于理解材料的化学结构和性质。FTIR通过测量样品对不同波长红外光的吸收，生成光谱图。根据光谱图中吸收峰的位置和强度，可以推断出材料中存在的化学键类型和数量。

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等 Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。

动图解析的16种材料测试仪器原理分别为：紫外分光光谱UV：通过吸收紫外光能量导致分子中电子能级跃迁，揭示分子中不同电子结构的信息。红外吸收光谱法IR：通过吸收红外光能量引起分子振动或转动能级跃迁，揭示功能团或化学键的特征振动频率。

紫外分光光谱UV（UV spectroscopy）利用紫外光的吸收特性，电子跃迁揭示分子结构。通过观察波长与相对吸收光能量的关系，识别特征吸收峰（位置、强度和形状），解读分子的内部构造。 红外吸收光谱法IR（Infrared spectroscopy）红外光谱基于偶极矩变化，揭示分子振动和转动能级跃迁。

仪器分析的原理及谱图方法大全如下： 紫外吸收光谱UV 原理：吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁。 谱图表示方法：相对吸收光能量随吸收光波长的变化。 提供信息：吸收峰的位置、强度和形状，反映分子中不同电子结构的信息。

紫外吸收光谱UV分析原理在于吸收紫外光能量，引起分子中电子能级跃迁，谱图表示相对吸收光能量随吸收光波长的变化，提供分子内电子结构信息。荧光光谱法FS原理是分子被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光，谱图表示发射荧光能量随光波长变化，提供分子电子结构信息。

sem扫描电镜图片怎么分析

分析SEM扫描电镜图片主要涉及到图像处理和图像分析两个步骤，通过专业的软件工具和特定的分析方法，可以对图片的形貌、成分、晶体结构等方面进行深入解读。 图像处理 首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。

分析 SEM 扫描电镜拍摄的图片，可从以下方面着手。观察形貌是基础。留意样品表面的整体形状、轮廓，比如是光滑平整，还是有起伏、孔洞等。注意不同区域的结构差异，像是否存在分层、颗粒团聚等现象。关注细节特征也很关键。查看微小的凸起、裂纹、划痕等，这些细节可能反映样品的制备过程或实际性能。

分析 SEM 扫描电镜图片可从以下几方面入手。首先观察形貌，留意样品的整体形状、表面起伏、颗粒分布等。比如材料表面是否平整，有无裂纹、孔洞，颗粒是均匀分散还是团聚。接着关注尺寸，借助图片上的标尺，测量特征结构或颗粒的大小，了解其微观尺度。

对 SEM 扫描电镜所成图片的分析可从以下几方面入手。形貌观察是基础。先整体观察样品的外形轮廓、尺寸大小和整体结构，初步了解其大致形态。接着聚焦微观细节，留意表面的起伏、孔洞、裂纹等特征，比如观察材料表面是否光滑，有无颗粒状凸起。成分分析方面，有些 SEM 配备能谱仪（EDS）。

放大率：在SEM中，图像的放大率不是通过调整透镜来实现的，而是通过控制扫描区域的大小来控制的。想要更高的放大率，只需扫描更小的面积。放大率是屏幕/照片面积与扫描面积的比值。 场深：SEM能够聚焦于焦平面上下的一小层区域内，这一层的厚度被称为场深，通常为几纳米。

钴酸钙的SEM断口和XRD怎么分析?

1、断口分析是观察材料断裂的具体方式，是韧性断裂、脆性断裂还是解理断裂。如果观察到断口中有韧窝，并且韧窝内存在破碎的粒子，这通常表明材料中存在脆性相，这可能会降低材料的整体性能。X射线衍射（XRD）分析的主要目的是确认材料中是否存在钴酸钙。

2、用XRD，SEM对原位自生法制备的Ti-50Al-xB（at％）合金的相组成的微观组织进行了研究。结果表明：该合金主要由TiAl和TiB2两相组成；TiB2主要以片状、板片状、细棒状和块状形式存在；TiB2微观形貌随着合金中B含量的变化而发生显著变化。