关于SEMTEMFIB的信息

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借助FIB、TEM、SEM等显微分析技术的4nm先进制程芯片解剖 随着集成电路制造工艺的不断优化,先进制程芯片内部结构日益复杂。本文聚焦于一款最新上市的4nm芯片,通过透射电子显微镜(TEM)、双束聚...