纳米粒径小不导电做tem还是sem，纳米材料导电

【动图秒懂】四大显微设备SEM、TEM、AFM、STM工作原理,看图说话_百度...

扫描电子显微镜（SEM）工作原理：通过聚焦电子束在样品表面扫描，激发各种物理信号调制成像，实现逐点成像，展现样品表面特征，如二次电子像和背散射电子像。SEM优点：高放大倍数、大景深、视野宽广、立体感强、制样简便。实例图片：SEM技术在观察材料表面细节方面表现出色。

SEM（扫描电子显微镜）利用电子束在样品表面扫描，通过激发出来的物理信号调制成像，实现高放大倍数和大景深成像，方便快速观察样品表面特征。TEM（透射电子显微镜）通过聚焦电子束透射样品，分析内部微观组织结构，常用于研究纳米材料的结晶情况和粒子形貌，提供详细的内部结构信息。

STM，英文全称： Scanning Tunneling Microscope，中文称：扫描隧道显微镜 AFM，英文全称： Atomic Force Microscope，中文称：原子力显微镜 工作原理不同 扫描电子显微镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。

AFM（原子力显微镜）通过微悬臂与样品表面的相互作用力形成图像，可以同时进行表面形貌和力学性质的测量。AFM无需真空环境，样品制备简单，适用于生物、化学、材料科学等多个领域。STM（扫描隧道显微镜）利用隧道电流的原理，对样品表面进行高分辨率的图像获取。

纳米颗粒粒径大小,粒径分布及表面测试的方法有哪些?各种方法的特点是是...

1、纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。

2、电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法，一般包括扫描电子显微镜法（SEM）和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径，特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法、最大交叉长度平均值法、粒径分布图法等。

3、无机纳米材料的表征方法多种多样，每种方法都有其独特的优势和适用范围。首先，粒度分析能够帮助我们准确测量颗粒尺寸，这对于理解材料的物理性质至关重要。粒度分析不仅能够提供材料的粒径分布情况，还能够揭示不同尺寸颗粒之间的差异。X射线衍射（XRD）技术主要用于分析无机纳米材料的相种类和结晶性。

4、显微镜法：直观测量，但价格昂贵，主要用于校验和标定，对形状和表面形貌研究有优势。 超声粒度分析：利用声波衰减测量粒径，适用于固含量测定，但对非晶材料不适用。 X射线法：晶体材料晶粒估算常用，但粗糙且不适用于非晶材料。

粒度分析的种类和适用范围

1、显微镜法(Microscopy)，如SEM和TEM，适用于纳米材料粒度大小和形貌分析，其粒度范围通常在1nm至5μm之间。沉降法(Sedimentation Size Analysis)基于颗粒的沉降速度，适用于10nm至20μm颗粒的测定，它基于颗粒的重力平衡和浮力以及黏滞阻力。光散射法，如激光衍射和动态光散射，具有广泛的应用。

2、显微镜法(Microscopy)　SEM、TEM；1nm～5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。

3、激光粒度仪主要用来测量粉末颗粒的尺寸分布，适用范围很广泛，包括但不限于：纳米粒子：纳米粒子所具有的特性能够带来不少好处。粒度测定装置可确保污染物和团聚物被识别出来并筛检除去，因此成为确保分散特性非常重要的手段。药品：粒子越小比表面积越大，溶解越快。

4、细粒度的概念广泛应用于多个领域。在图像识别领域，细粒度识别要求计算机能够识别出不同种类物体的微小差异；在文本分析领域，细粒度情感分析能够识别文本中的具体情感倾向和情绪表达；在事件分析中，细粒度事件抽取可以提取出事件的详细信息和结构。