sem图片怎么确定粒径，sem图怎么看

TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图超详细教程

1、使用Nano Measurer进行粒径测量与统计 软件安装与准备：下载并安装Nano Measurer软件。如遇msvbvm60.dll文件错误，选择忽略并继续安装，随后将该文件复制到C：windowssystem32目录下。设置标尺：打开SEM/TEM电镜图片，在Nano Measurer中设置正确的标尺，以确保测量的准确性。

2、首先，安装Nano Measurer，忽略msvbvm60.dll错误后，按照步骤打开并设置SEM图片标尺。对于非*.bmp和*.jpg格式的TEM图片，需进行预处理。在测量过程中，至少标记10个颗粒，调整标记位置和颜色，生成报告后导出为txt文件。

3、然后，选择安装语言，点击下一步进行安装。安装完成后，打开软件，以Jpg格式的SEM图片为例，设置标尺并进行颗粒标记统计。至少需要标记10个数据点，通过设置标尺、标记粒径、删除不理想颗粒和调整标记位置等方式进行操作。测量完成后，点击报告生成txt文件，便于后续在Origin中进行粒径分布的作图。

4、使用教程分为两部分：首先是安装步骤，包括解压、忽略错误对话框、选择语言和安装。然后是Nano Measurer的使用，包括打开SEM或TEM图片，设置标尺，标记和删除颗粒，查看报告，以及在电镜图片上放大缩小。测量粒径后，数据可以导出到txt文件，便于进一步在Origin中进行分析和作图。

5、Nano measurer是一款简单易用的电镜图片尺寸统计分析工具，适用于SEM、TEM等图片中微纳米尺度下的长度、直径、孔径等尺寸的统计分析，同时也能进行颗粒间距离分析。这款软件具有占用内存小、操作简单、数据可导入origin作图等优势，界面支持中英文切换，非常适合推荐给外国科研人员使用。

如何作粒径分布图?

给软件固定一个标尺，之后粒径通过在图上划线得到相对长度，软件会记录你划的每一个粒径的长度，给出数字数据并做出分布图。首先打开图片。文件-打开。为了方便随后的划线误差小，也可以找一张局部高倍的。然后开始采集数据，给软件一个标尺，确定标尺长度和单位，开始取粒径数据。最后，导出数据。

在标尺上绘制一条红色横线，并设定标尺长度和单位。接着，使用蓝色线条在每条颗粒上测量直径。如果测量错误，可以通过右击数字删除。完成测量后，导出数据至报告中，包括最大、最小和平均粒径等信息。建议导出为*.txt文件，以便后续在Origin中进行图表制作。接下来，我们使用Origin制作粒径分布图。

如何作粒径分布图？首先，使用Nano Measure2这个软件来统计SEM图片中不均匀颗粒的直径，以生成一组粒径分布图。这个软件仅支持JPEG或BMP格式的图片，并需用户提供一个标尺。标尺长度和单位在软件设置中输入。接着，用户在图像上绘制粒径线，软件会记录并统计颗粒的直径。

使用Origin软件作图： 导入数据：将Nano Measure2软件导出的数据导入到Origin软件中。 选择粒径区间：在Origin中，根据数据的实际情况选择合适的粒径区间。 生成直方图：利用Origin的直方图功能，根据导入的数据生成初步的粒径分布图。 调整细节：对生成的直方图进行细节调整，如修改图例、坐标轴标签等。

【知识】扫描电镜(SEM)知识大全

扫描电镜（SEM）的工作原理是基于电子与样品相互作用的现象。电子束聚焦后扫描样品表面，激发出的信号被收集并转化为图像，从而实现对样品表面形貌的高分辨率观察。 在SEM中，高能电子束与样品相互作用，产生二次电子、背散射电子等信号。

扫描电镜SEM和透射电镜TEM在分析信号及结构方面的区别如下：分析信号 扫描电镜：通过电子与物质的相互作用获取样品的物理、化学性质信息。主要信号包括二次电子、背散射电子、X射线等。二次电子信号是研究样品表面形貌的主要信息。

SEM的基本原理是通过电子枪射出电子束，聚焦后在样品表面进行光栅扫描，探测电子作用于样品产生的信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、俄歇电子、阴极荧光、特征X射线等。通过分析这些信号，SEM能揭示试样表面的组成、形态和结构。

SEM扫描电镜的电子束辐射相对较小，其最大放射强度仅相当于太阳辐射的0.3%左右。此外，SEM工作时会将样品置于真空环境中，因此电子束在与气体分子作用时会产生少量的辐射。但是这些辐射都有一定的控制范围，因此不会对使用SEM的人员造成任何危害。

粒径分布图制作方法!

在标尺上绘制一条红色横线，并设定标尺长度和单位。接着，使用蓝色线条在每条颗粒上测量直径。如果测量错误，可以通过右击数字删除。完成测量后，导出数据至报告中，包括最大、最小和平均粒径等信息。建议导出为*.txt文件，以便后续在Origin中进行图表制作。接下来，我们使用Origin制作粒径分布图。

要绘制颗粒粒径分布图，需要执行以下步骤： 在CFDPost中加载你的计算结果。这可以通过打开后处理工具并选择计算文件，或者使用读取计算文件命令来完成。 选择你要绘制颗粒粒径分布图的区域。可以是整个计算域，也可以是特定的几何区域。你可以使用CFDPost中的选择工具来指定感兴趣的区域。

首先，使用Nano Measure2这个软件来统计SEM图片中不均匀颗粒的直径，以生成一组粒径分布图。这个软件仅支持JPEG或BMP格式的图片，并需用户提供一个标尺。标尺长度和单位在软件设置中输入。接着，用户在图像上绘制粒径线，软件会记录并统计颗粒的直径。

针对sem扫描电镜的图片要怎么去分析

1、对 SEM 扫描电镜图片进行分析，可从以下几方面着手。形貌观察是基础。仔细查看图片中样品的整体形状、表面起伏与纹理等微观特征。比如材料的颗粒大小、形状是否规则，纤维的长短、粗细以及排列方向等。尺寸测量也很关键。利用图片中的标尺，可对感兴趣的微观结构进行尺寸估算。

2、SEM扫描电镜图片分析可从多个方面着手。形貌观察是基础，仔细查看样品表面的微观结构，比如是否存在颗粒，需留意颗粒的大小、形状，是球形、方形还是不规则形；对于纤维结构，要关注其粗细、长短以及排列方式，是有序排列还是杂乱无章。成分分析方面，可借助能谱仪（EDS）与扫描电镜联用。

3、图像处理 首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除、对比度增强、图像锐化等。

4、首先，使用扫描电子显微镜（SEM）对样品进行扫描，获取高质量的图像。 接着，对所获得的SEM图像进行适当的处理，如调整对比度和亮度，以便更清晰地观察微相特征。 然后，根据处理后的图像，分析微相的形态特征和分布情况，以推断微相的性质和形成机制。